Theo các phương tiện truyền thông đưa tin, Bộ Năng lượng Hoa Kỳ (DOE) gần đây đã công bố báo cáo độ tin cậy thứ ba về ổ đĩa LED dựa trên thử nghiệm tuổi thọ tăng tốc dài hạn. Các nhà nghiên cứu tại Hệ thống chiếu sáng trạng thái rắn (SSL) của Bộ Năng lượng Hoa Kỳ tin rằng các kết quả mới nhất xác nhận rằng phương pháp Kiểm tra ứng suất tăng tốc (AST) đã cho thấy hiệu suất tốt trong nhiều điều kiện khắc nghiệt khác nhau. Ngoài ra, kết quả kiểm tra và các hệ số lỗi đo được có thể cung cấp thông tin cho các nhà phát triển trình điều khiển về các chiến lược liên quan để cải thiện độ tin cậy hơn nữa.
Như đã biết, trình điều khiển LED, giống như các bộ phận LED, rất quan trọng để có được chất lượng ánh sáng tối ưu. Thiết kế trình điều khiển phù hợp có thể loại bỏ hiện tượng nhấp nháy và cung cấp ánh sáng đồng đều. Và bộ điều khiển cũng là thành phần dễ gặp trục trặc nhất trong đèn LED hoặc các thiết bị chiếu sáng. Sau khi nhận ra tầm quan trọng của trình điều khiển, DOE đã bắt đầu dự án thử nghiệm trình điều khiển dài hạn vào năm 2017. Dự án này liên quan đến trình điều khiển đơn kênh và đa kênh, có thể được sử dụng để cố định các thiết bị như rãnh trần.
Bộ Năng lượng Hoa Kỳ trước đây đã công bố hai báo cáo về quá trình và tiến độ thử nghiệm, và hiện đang công bố báo cáo dữ liệu thử nghiệm thứ ba, bao gồm các kết quả thử nghiệm sản phẩm chạy trong điều kiện AST trong 6000-7500 giờ.
Trên thực tế, ngành công nghiệp này không có nhiều thời gian để lái thử xe trong môi trường hoạt động bình thường trong nhiều năm. Ngược lại, Bộ Năng lượng Hoa Kỳ và nhà thầu RTI International của họ đã thử nghiệm ổ đĩa trong môi trường mà họ gọi là môi trường 7575 – với độ ẩm và nhiệt độ trong nhà luôn được duy trì ở 75°C. Thử nghiệm này bao gồm hai giai đoạn thử nghiệm trình điều khiển, độc lập với kênh. Thiết kế một giai đoạn có chi phí thấp hơn, nhưng nó thiếu một mạch riêng trước tiên chuyển đổi AC thành DC và sau đó điều chỉnh dòng điện, đây là tính năng duy nhất của thiết kế hai giai đoạn.

Báo cáo của Bộ Năng lượng Hoa Kỳ cho biết rằng trong các thử nghiệm được tiến hành trên 11 ổ đĩa khác nhau, tất cả các ổ đĩa đều chạy trong 1000 giờ trong môi trường 7575. Khi ổ đĩa được đặt trong phòng môi trường, tải LED kết nối với ổ đĩa được đặt trong điều kiện môi trường ngoài trời nên môi trường AST chỉ ảnh hưởng đến ổ đĩa. DOE không liên kết thời gian chạy trong điều kiện AST với thời gian chạy trong điều kiện bình thường. Lô thiết bị đầu tiên bị lỗi sau khi chạy được 1250 giờ, mặc dù một số thiết bị vẫn còn hoạt động. Sau khi thử nghiệm trong 4800 giờ, 64% thiết bị không thành công. Tuy nhiên, xét đến môi trường thử nghiệm khắc nghiệt, những kết quả này đã rất tốt.
Các nhà nghiên cứu đã phát hiện ra rằng hầu hết các lỗi xảy ra ở giai đoạn đầu của trình điều khiển, đặc biệt là trong các mạch hiệu chỉnh hệ số công suất (PFC) và mạch triệt tiêu nhiễu điện từ (EMI). Ở cả hai giai đoạn điều khiển, MOSFET đều có lỗi. Ngoài việc chỉ ra các khu vực như PFC và MOSFET có thể cải thiện thiết kế trình điều khiển, AST này còn chỉ ra rằng lỗi thường có thể được dự đoán dựa trên việc giám sát hiệu suất của trình điều khiển. Ví dụ, giám sát hệ số công suất và dòng điện đột biến có thể phát hiện trước các lỗi sớm. Việc nhấp nháy tăng lên cũng cho thấy sự cố sắp xảy ra.
Trong một thời gian dài, chương trình SSL của DOE đã tiến hành thử nghiệm và nghiên cứu quan trọng trong lĩnh vực SSL, bao gồm thử nghiệm sản phẩm kịch bản ứng dụng trong dự án Gateway và thử nghiệm hiệu suất sản phẩm thương mại trong dự án Caliper.